SPR-5000紫外-可见-红外光谱辐射分析仪
采用三光栅单色仪和八通道滤色片分光，配合四组光性能光谱探测系统，具有低杂散光、高动态范围、高信噪比性能，并符合CIE NO.63要求，可连续一次测量紫外-可见-红外（200nm~3000nm）宽波段内光源的光谱功率分布及光度、辐射度参数。适合照明灯具产品及半导体发光器件LED产品的辐射安全分析。
- 技术参数
- 应用指南
功能：采用三光栅单色仪和八通道滤色片分光，配合四组光性能光谱探测系统，具有低杂散光、高动态范围、高信噪比性能，并符合CIE NO.63要求，可连续一次测量紫外-可见-红外（200nm~3000nm）宽波段内光源的光谱功率分布及光度、辐射度参数。适合照明灯具产品及半导体发光器件LED产品的辐射安全分析。
性能指标：
◆ 探测器：Hamamatsu PMT/InGaAs/PbS
◆ 分光器：三光栅单色仪和滤光片盘的双重分光。
◆ 宽波长范围：200nm至3000nm（其它波段可定制）
◆ 波长准确度：0.2nm（紫外，可见）；0.5nm（红外）
◆ 重复性：0.1nm；
◆ 采样间隔：1nm、2nm、5nm，
◆ 接口：USB2.0/RS232
