PDP真空紫外荧光光谱测试系统
测量PDP荧光粉在147.0nm、172nm真空紫外辐照激发下的发光光谱功率分布、谱线带宽、峰值波长、发光亮度、色品坐标、颜色纯度和主波长等参数；测量PDP荧光粉的发光余辉波形曲线、有效余辉时间，以及荧光粉在VUV辐…
- 技术参数
- 应用指南
功能：测量PDP荧光粉在147.0nm、172nm真空紫外辐照激发下的发光光谱功率分布、谱线带宽、峰值波长、发光亮度、色品坐标、颜色纯度和主波长等参数；测量PDP荧光粉的发光余辉波形曲线、有效余辉时间，以及荧光粉在VUV辐照下的光衰特性。
性能指标：
◆ 快速、简便地测试PDP荧光粉的亮度、色度、余辉等光学参数
◆ 可分别测量147nm和172nm单一谱线激发下的发光性能分析PDP的放电与荧光粉匹配参数
◆ 激发光源：模拟PDP像元发光特性的真空紫外放电管
◆ 光谱范围：350nm～800nm（或200nm～800nm）
◆ 余辉时间：0.1ms～1s
◆ 余辉分辨率：0.1ms（可扩展至1μs）
