为了配合IEC TC110 WG10 激光显示光学性能评价国际标准的研制，根据2015年IEC TC110 WG10圣何塞会议期间商议决定，由IEC TC110 WG10激光显示工作组组织、全国平板显示器件标准化技术会支持、杭州浙大三色仪器有限公司承办，于2015年10月15日在浙大三色国际先进照明和显示实验室举办了激光显示光学性能试验及研讨会。
试验研讨会由美国国家标准研究院NIST显示测量专家John Penczek博士和浙江大学光电系牟同升教授担任光学测量试验负责人，由海信集团等单位提供激光显示设备，由浙大三色公司供提光学测量设备。国际、国内激光显示技术和标准化专家十余人参加了实验及研讨。
研讨会期间，与会代表针对激光显示特点，采用不同方法及浙大三色自主研制的光学测量设备，结合国际标准起草对激光投影显示器的光学性能、图像质量、散斑、光辐射安全等进行测试、研究，针对标准内容提出了部分意见与建议。同时对浙大三色在激光显示测量方面的研究及高端检测设备的研制方面给予了充分肯定，尤其是浙大三色基于光生物辐射安全多年研究创新研制的激光投影辐射安全测量仪获得了与会代表的关注。
