3D显示、激光显示如何测？NIST专家告诉你

为了使产业界能更深入地了解国际电子显示器件标准化工作，以及新型电子显示器件的光学性能评价及检测。在全国平板显示器件标准化技术委员会支持下，2015新型电子显示器件国际标准及光学测量技术讲座在浙大三色德清科技园举行。

        讲座邀请了IEC TC110电子显示器件技术委员会标准专家、ICDM测量标准IDMS主要执笔人、美国国家标准与技术研究院(NIST)John Penczek博士, 全国平板显示器件标准化技术委员会赵英秘书长, 浙江大学光电学院牟同升教授以及东南大学显示技术研究中心李晓华教授等, 就新型电子显示国际标准及光学测量技术做专题讲座。来自显示产商、认证检测、高校及研究机构的数十位学员参加了讲座。

  

        讲座主题涉及电子显示器件国际标准和国家标准动态、新型电子显示技术及发展趋势、电子显示器件光学性能测量方法、电子显示器件光学测量技术及仪器。讲座后，学员参观了浙大三色国际先进照明和显示实验室，参与了部分针对电子显示器件的光学测量实验演示。